Caracterización de defectos en circuitos CMOS para su detección por Iddq

A. Alvarez, C. Ferrer, N. Fàbregas, J. Oliver, M. Rullán

    Research output: Chapter in BookChapterResearch

    Original languageSpanish
    Title of host publicationActas VI Jornadas de Diseño de Circuitos Integrados
    Place of PublicationSantander (ES)
    Pages171-175
    Number of pages4
    Edition1
    Publication statusPublished - 1 Jan 1991

    Cite this