Variabilidad y fiabilidad en dispositivos electrónicos avanzados: de la nanoescala al circuito (VARENAC)

Nafria Maqueda, Montserrat (Principal Investigator)
Amat Bertran, Esteve (Investigator)
Ayala Cintas, Nuria (Investigator)
Aymerich Humet, Francisco Javier (Investigator)
Bayerl , Albin (Investigator)
Crespo Yepes, Albert (Investigator)
Iglesias Santiso, Vanessa (Investigator)
Lanza Martínez, Mario (Investigator)
Martin Martinez, Javier (Investigator)
Porti Pujal, Marc (Investigator)
Rodriguez Martinez, Rosana (Investigator)
Velayudhan , Vikas (Investigator)
Moras Albero, Miquel (Investigator)
Maestro Izquierdo, Marcos (Investigator)
Couso Fontanillo, Carlos (Investigator)
Diaz Fortuny, Javier (Others)
Claramunt Ruiz, Sergi (Investigator)

Description

Unavailable

Status	Finished
Effective start/end date	1/01/11 → 31/12/14

Funding

Ministerio de Ciencia e Innovación (MICINN): €255,552.00