Desarrollo de instrumentación óptica avanzada para aplicaciones en polarimetría de imagen y metrología de superficies por deflectometría de franjas

  • Yzuel Gimenez, Josefa (Principal Investigator)
  • Campos Coloma, Juan Ignacio Pedro (Principal Investigator 2)
  • Escalera Merino, Juan Carlos (Collaborator)
  • Lizana Tutusaus, Angel (Collaborator)
  • Zhang, Haolin (Collaborator)
  • Van Eeckhout Alsinet, Albert (Collaborator)
  • Iemmi, Claudio César (Investigator)
  • Márquez Ruiz, Andrés (Investigator)

Project Details

StatusFinished
Effective start/end date1/01/1630/06/19