Search results

• Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM

  Porti Pujal, M. (Author), Aymerich Humet, X. (Director) & Nafría Maqueda, M. (Director), 4 Apr 2003

  Student thesis: Doctoral thesis