Propiedades eléctricas a escala nanométrica de dispositivos MOS con dieléctricos de puerta basados en Hf.

Tesi d’estudis: Tesina (TFM)

Data del Ajut15 de jul. 2005
Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
SupervisorMarc Porti Pujal (Director/a)

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