Observacions a escala nanomètrica de la conducció elèctrica en capes primes de SiO2 d'estructures MOS mitjançant C-AFM

Tesi d’estudis: Tesina (TFM)

Data del Ajut1 de set. 2000
Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
SupervisorMontserrat Nafria Maqueda (Director/a)

Com citar-ho

'