Data del Ajut | 10 d’abr. 1992 |
---|---|
Idioma original | No s'ha definit/desconegut |
Supervisor | Xavier Aymerich Humet (Director/a) |
Formalismes físics per a la microscòpia d'efecte túnel. Aplicació d'un STM atmosfèric en microelectrònica: Caracterització de Si i d'estructures MOS
Tesi d’estudis: Tesi doctoral