Saltar a la navegació principal Saltar a la cerca Vés al contingut principal

Degradació de transistors NMOS per efecte de portadors calents

Tesi d’estudis: Tesi doctoral

Data del Ajut17 de set. 1999
Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
SupervisorJordi Pascual Gainza (Tutor/a) & Francesca Campabadal Segura (Director/a)

Com citar-ho

'