| Data del Ajut | 1 de gen. 1995 |
|---|---|
| Idioma original | No s'ha definit/desconegut |
| Supervisor | Jordi Pascual Gainza (Director/a) |
Caracterización por reflectividad infrarojo de capas delgadas de 3C-SiC crecidas sobre substratos de Si
Tesi d’estudis: Tesina (TFM)