Caracterización de subóxidos de silicio obtenidos por la técnica PECVD

Tesi d’estudis: Tesi doctoral

Data del Ajut17 de des. 2001
Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
SupervisorNarcís Mestres Andre (Director/a) & Jordi Pascual Gainza (Director/a)

Com citar-ho

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