| Data del Ajut | 1 de jul. 2009 |
|---|---|
| Idioma original | No s'ha definit/desconegut |
| Supervisor | Montserrat Nafria Maqueda (Director/a) |
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Caracteritzación del BTI en MOSFETs basados en dieléctricos high-k con la técnica Fast Measurement
Tesi d’estudis: Tesina (TFM)