| Data del Ajut | 4 d’abr. 2003 |
|---|---|
| Idioma original | Undefined/Unknown |
| Institució adjudicatària |
|
| Supervisor | Xavier Aymerich Humet (Director/a) & Montserrat Nafria Maqueda (Director/a) |
Caracterització a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM
Tesi d’estudis: Tesi doctoral