Aplicació de la microscòpia d'efecte túnel a l'anàlisi i modificació nanomètrica de superfícies de Si(100)

    Tesi d’estudis: Tesi doctoral

    Data del Ajut21 de maig 1993
    Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
    SupervisorXavier Aymerich Humet (Director/a)

    Com citar-ho

    '