Saltar a la navegació principal Saltar a la cerca Vés al contingut principal

Advanced Analysis of Microelectronic Devices and Systems by Lock-in IR Thermography

Tesi d’estudis: Tesi doctoral

Data del Ajut7 de jul. 2016
Idioma originalAnglès
Supervisor Xavier Perpinyà Gibert (Director/a) & Miquel Vellvehí Hernández (Director/a)

Paraules clau

  • Microelectrònica
  • Termografía infrarroja lock-in
  • Anàlisi de fallida

Com citar-ho

'