Variable waveplate-based polarimeter for polarimetric metrology

A. Peinado, A. Lizana, J. Vidal, C. Iemmi, A. Márquez, I. Moreno, J. Campos

Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca

1 Citació (Scopus)

Idioma original	Anglès
Pàgines (de-a)	-
Revista	Proceedings of SPIE, The international Society for Optical Engineering
Volum	7390
DOIs	https://doi.org/10.1117/12.828045
Estat de la publicació	Publicada - 1 de gen. 2009

Accés al document

@article{9d32a382c88e424ebbf9db11c3847256,

title = "Variable waveplate-based polarimeter for polarimetric metrology",

author = "A. Peinado and A. Lizana and J. Vidal and C. Iemmi and A. M{\'a}rquez and I. Moreno and J. Campos",

year = "2009",

month = jan,

day = "1",

doi = "10.1117/12.828045",

language = "English",

volume = "7390",

pages = "--",

journal = "Proceedings of SPIE, The international Society for Optical Engineering",

issn = "0277-786X",

}

TY - JOUR

T1 - Variable waveplate-based polarimeter for polarimetric metrology

AU - Peinado, A.

AU - Lizana, A.

AU - Vidal, J.

AU - Iemmi, C.

AU - Márquez, A.

AU - Moreno, I.

AU - Campos, J.

PY - 2009/1/1

Y1 - 2009/1/1

U2 - 10.1117/12.828045

DO - 10.1117/12.828045

M3 - Article

SN - 0277-786X

VL - 7390

SP - -

JO - Proceedings of SPIE, The international Society for Optical Engineering

JF - Proceedings of SPIE, The international Society for Optical Engineering

ER -