Una nueva estrategia para la generación de secuencias de test en circuitos CMOS descritos a nivel interruptor

C. Ferrer, J. Oliver, E. Valderrama

    Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

    Idioma originalEspanyol
    Títol de la publicacióActas de las V Jornadas de Diseño de Circuitos Integrados
    Lloc de publicacióSevilla (ES)
    Pàgines349-356
    Nombre de pàgines7
    Edició1
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1989

    Com citar-ho