Two-step stress method for the dynamic testing of very thin (8 nm) SiO<inf>2</inf> films

Producció científica: Contribució a revistaArticleRecercaAvaluat per experts

1 Citació (Scopus)

Fingerprint

Navegar pels temes de recerca de 'Two-step stress method for the dynamic testing of very thin (8 nm) SiO<inf>2</inf> films'. Junts formen un fingerprint únic.

Keyphrases