Transient analysis of resoant tunneling diodes in self consistent Wigner distribution formalism. III-V Semiconductor device simulation workshop.

Producció científica: Llibre/InformeLlibre d'ActesRecerca

Idioma originalUndefined/Unknown
Lloc de publicació- (IT)
Nombre de pàgines1
Estat de la publicacióPublicada - de jul. 1997

Com citar-ho