Toy model for the progressive breakdown dynamics of ultrathin gate dielectrics

E. Miranda*, D. Jiménez, J. Suñé

*Autor corresponent d’aquest treball

Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecercaAvaluat per experts

Fingerprint

Navegar pels temes de recerca de 'Toy model for the progressive breakdown dynamics of ultrathin gate dielectrics'. Junts formen un fingerprint únic.

Engineering

Mathematics

Material Science

Chemical Engineering