Idioma original | Anglès |
---|---|
Pàgines (de-a) | 1807-1808 |
Revista | Microelectronics and Reliability |
Volum | 45 |
Número | 12 |
DOIs | |
Estat de la publicació | Publicada - 1 de des. 2005 |
The TDDB power-law model-Physics and experimental evidences
R.-P. Vollertsen, E. Miranda
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca
2
Cites
(Scopus)