Stress mapping on the porous silicon microcapsules by Raman microscopy

Nuria Torras Andres

Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca

Idioma original	Anglès
Pàgines (de-a)	488-491
Revista	Microelectronic Engineering
Volum	98
Estat de la publicació	Publicada - 1 de gen. 2012

Com citar-ho

@article{1c8553c83d704646b8e924a824d8b0e0,

title = "Stress mapping on the porous silicon microcapsules by Raman microscopy",

author = "{Torras Andres}, Nuria",

year = "2012",

month = jan,

day = "1",

language = "English",

volume = "98",

pages = "488--491",

journal = "Microelectronic Engineering",

issn = "0167-9317",

publisher = "Elsevier",

}