Statistics of Successive Breakdown Events in Gate Oxides

J. Suñé, E. Wu

    Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecerca

    68 Cites (Scopus)
    Idioma originalEnglish
    Pàgines (de-a)272-274
    RevistaIEEE Electron Device Letters
    Volum24
    DOIs
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 2003

    Com citar-ho