Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Reversible dielectric breakdown in ultrathin Hf based high-k stacks under current-limited stresses'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Reversible dielectric breakdown in ultrathin Hf based high-k stacks under current-limited stresses
R. Rodriguez, A. Crespo-Yepes, X. Aymerich, M. Nafria, J. Martin-Martinez
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
18
Cites
(Scopus)