Idioma original | Anglès |
---|---|
Títol de la publicació | IEEE International Workshop on IDDG Testing |
Editors | Malaiya, Y. K., Jayasumana, A.P. |
Lloc de publicació | Piscataway (US) |
Pàgines | 110-111 |
Nombre de pàgines | 1 |
Edició | 1 |
Estat de la publicació | Publicada - 1 de gen. 1995 |
On the sensitization of iddg faults by symbolic simulation
L. Ribas, J. Carrabina
Producció científica: Capítol de llibre › Capítol › Recerca