On the sensitization of iddg faults by symbolic simulation

L. Ribas, J. Carrabina

    Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

    Idioma originalAnglès
    Títol de la publicacióIEEE International Workshop on IDDG Testing
    Editors Malaiya, Y. K., Jayasumana, A.P.
    Lloc de publicacióPiscataway (US)
    Pàgines110-111
    Nombre de pàgines1
    Edició1
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1995

    Com citar-ho