Nanoscale topography-current CAFM temperature study of Threading Dislocations in InGaAs channel materials

C. Couso, V. Iglesias, S. Claramunt, M. Nafría, N. Domingo, G. Bersuker, A. Cordes

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecerca

Idioma originalEnglish
Pàgines (de-a)-
RevistaApplied Physics Letters
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 2015

Com citar-ho