Idioma original | Anglès |
---|---|
Pàgines (de-a) | - |
Revista | Applied Physics Letters |
Estat de la publicació | Publicada - 1 de gen. 2015 |
Nanoscale topography-current CAFM temperature study of Threading Dislocations in InGaAs channel materials
C. Couso, V. Iglesias, S. Claramunt, M. Nafría, N. Domingo, G. Bersuker, A. Cordes
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca