Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Modeling the post-breakdown current in MOS devices on p-silicon substrate'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Modeling the post-breakdown current in MOS devices on p-silicon substrate
A. Ortiz-Conde*, E. Miranda, F. J. García Sanchéz, E. Farkas, S. Malobabic
*Autor corresponent d’aquest treball
Producció científica: Capítol de llibre › Capítol › Recerca › Avaluat per experts
3
Cites
(Scopus)