Modeling of the leakage current through broken down TiO2/SiO2 gate stacks

E. Miranda, J. Tinoco, I. Garduno, M. Estrada, A. Cerdeira

Sortida de recercaRecerca

Idioma originalEnglish
Pàgines (de-a)---
RevistaThin Solid Films
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 2009

Citeu això