Micro and nano analysis of 0.2Ωmm Ti/Al/Ni/Au ohmic contact to AlGaN/GaN

A. Fontserè, A. Pérez-Tomás, M. Placidi, J. Llobet, N. Baron, S. Chenot, Y. Cordier, J. C. Moreno, P. M. Gammon, M.R. Jennings, M. Porti, A. Bayerl, M. Lanza, M. Nafría

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecercaAvaluat per experts

Idioma originalEnglish
Pàgines (de-a)2135-104-2013504-3
RevistaApplied Physics Letters
Volum99
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 2011

Com citar-ho