Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Methodology for the Simulation of the Variability of MOSFETs with Polycrystalline High-k Dielectrics Using CAFM Input Data'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Methodology for the Simulation of the Variability of MOSFETs with Polycrystalline High-k Dielectrics Using CAFM Input Data
A. Ruiz*, C. Couso, N. Seoane, M. Porti, A. J. Garcia-Loureiro, M. Nafria
*Autor corresponent d’aquest treball
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
3
Cites
(Scopus)
2
Descàrregues
(Pure)