Measurement of thresold voltages of thin film accumulation mode PMOS/SOI

A. Terao, D. Flandre, LORA TAMAYO E., F. Van de Wiele

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecerca

85 Cites (Scopus)
Idioma originalEnglish
Pàgines (de-a)682-684
RevistaIEEE Electron Device Letters
Volum12
Número12
DOIs
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1991

Com citar-ho