Idioma original | Anglès |
---|---|
Pàgines (de-a) | 682-684 |
Revista | IEEE Electron Device Letters |
Volum | 12 |
Número | 12 |
DOIs | |
Estat de la publicació | Publicada - 1 de gen. 1991 |
Measurement of thresold voltages of thin film accumulation mode PMOS/SOI
A. Terao, D. Flandre, LORA TAMAYO E., F. Van de Wiele
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca
85
Cites
(Scopus)