Local modification of HF-treated silicon (100) surface and its characterization by scanning tunneling microscopy and spectroscopy

F. Pérez, N. Barniol, X. Aymerich

Producció científica: Contribució a revistaArticleRecerca

Idioma originalAnglès
Pàgines (de-a)651-657
RevistaJournal of Vacuum Science & Technology (A)
Volum0
Número11
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1993

Com citar-ho