Leakage current through the poly-crystalline HfO<inf>2</inf>: Trap densities at grains and grain boundaries

Onofrio Pirrotta, Luca Larcher, Mario Lanza, Andrea Padovani, Marc Porti, Montserrat Nafría, Gennadi Bersuker

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecercaAvaluat per experts

77 Cites (Scopus)

Fingerprint

Navegar pels temes de recerca de 'Leakage current through the poly-crystalline HfO<inf>2</inf>: Trap densities at grains and grain boundaries'. Junts formen un fingerprint únic.

INIS

Material Science

Engineering

Keyphrases