Layout Level Design for Testability Rules for a CMOS Cell Library

M. Rullán, F.C. Blom, J. Oliver, C. Ferrer

    Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

    Idioma originalAnglès
    Títol de la publicacióProceedings of the EURO-DAC
    Editors ISBN: 0-8186-4350-1
    Lloc de publicació(US)
    Pàgines214-218
    Nombre de pàgines4
    Edició1
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1993

    Com citar-ho