Idioma original | Anglès |
---|---|
Títol de la publicació | Proceedings of the EURO-DAC |
Editors | ISBN: 0-8186-4350-1 |
Lloc de publicació | (US) |
Pàgines | 214-218 |
Nombre de pàgines | 4 |
Edició | 1 |
Estat de la publicació | Publicada - 1 de gen. 1993 |
Layout Level Design for Testability Rules for a CMOS Cell Library
M. Rullán, F.C. Blom, J. Oliver, C. Ferrer
Producció científica: Capítol de llibre › Capítol › Recerca