Frequency dependence of degradation and breakdown of thin SiO2 films

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecerca

1 Citació (Scopus)
Idioma originalEnglish
Pàgines (de-a)257-261
RevistaQuality & Reliability Engineering International
Volum11
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1995

Com citar-ho