Feasibility of the electrical characterization of single SiO <inf>2</inf> breakdown spots using C-AFM

M. Porti, R. Rodríguez, M. Nafría, X. Aymerich, A. Olbrich, B. Ebersberger

    Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecercaAvaluat per experts

    5 Cites (Scopus)

    Fingerprint

    Navegar pels temes de recerca de 'Feasibility of the electrical characterization of single SiO <inf>2</inf> breakdown spots using C-AFM'. Junts formen un fingerprint únic.

    Earth and Planetary Sciences

    Material Science