Fault characterization for IC testing by current leakage measurement

A. Alvarez, N. Fàbregas, C. Ferrer, J. Oliver, M. Rullán

Producció científica: Capítol de llibre › Capítol › Recerca

Idioma original	Anglès
Títol de la publicació	Proceedings del ISMM Internatinal Workshop on Parallel Computing
Lloc de publicació	Zurich (CH)
Pàgines	200-203
Nombre de pàgines	3
Edició	-
Estat de la publicació	Publicada - 1 de gen. 1991

Com citar-ho

@inbook{5f5ef13c19b344b394ebb190a94dd5f2,

title = "Fault characterization for IC testing by current leakage measurement",

author = "A. Alvarez and N. F{\`a}bregas and C. Ferrer and J. Oliver and M. Rull{\'a}n",

year = "1991",

month = jan,

day = "1",

language = "English",

isbn = "978-0-88986-147-3",

pages = "200--203",

booktitle = "Proceedings del ISMM Internatinal Workshop on Parallel Computing",

edition = "-",

}