Fault characterization for IC testing by current leakage measurement

A. Alvarez, N. Fàbregas, C. Ferrer, J. Oliver, M. Rullán

    Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

    Idioma originalAnglès
    Títol de la publicacióProceedings del ISMM Internatinal Workshop on Parallel Computing
    Lloc de publicacióZurich (CH)
    Pàgines200-203
    Nombre de pàgines3
    Edició-
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1991

    Com citar-ho