Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Failure physics of ultra-thin SiO<inf>2</inf>gate oxides near their scaling limit'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Failure physics of ultra-thin SiO<inf>2</inf>gate oxides near their scaling limit
J. Suñé, M. Nafría, E. Miranda, X. Oriols, R. Rodríguez, X. Aymerich
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
23
Cites
(Scopus)