Experimental Observation and Modeling of the Impact of Traps on Static and Analog/HF Performance of Graphene Transistors
Anibal Pacheco-Sanchez, Nikolaos Mavredakis, Pedro C. Feijoo, Wei Wei, Emiliano Pallecchi, Henri Happy, David Jimenez
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
21
!!Link opens in a new tab
Cites
(Scopus)
3
Descàrregues
(Pure)