Electrical resolution during Conductive AFM measurements under different environmental conditions and contact forces

M. Lanza, M. Porti, M. Nafría, X. Aymerich, E. Wittaker, B. Hamilton

Producció científica: Contribució a una revistaArticleRecercaAvaluat per experts

44 Cites (Scopus)
Idioma originalEnglish
Pàgines (de-a)106110-
RevistaReview of Scientific Instruments
Volum81
Número10
DOIs
Estat de la publicacióPublicada - 1 de març 2010

Com citar-ho