Edge Classification using Photo-Geo metric features

Josep M. Gonfaus, Theo Gevers, Arjan Gijsenij, Xavier Roca, Jordi Gonzalez

Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecercaAvaluat per experts

Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
Títol de la publicació21st International Conference on Pattern Recognition
Estat de la publicacióPublicada - 2012

Com citar-ho