Displacement-free stereoscopic phase measuring deflectometry based on phase difference minimization

Juan Ignacio Pedro Campos Coloma

Departament de Física

Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts

12 Cites (Scopus)

Idioma original	Anglès nord-americà
Revista	Optics express
DOIs	https://doi.org/10.1364/oe.403013
Estat de la publicació	Publicada - 12 d’oct. 2020

Accés al document

10.1364/oe.403013

Desarrollo de instrumentación polarimétrica avanzada para la caracterización de materiales y tejidos; y metrología de superficies por deflectometría
Campos Coloma, J. I. P. (PI), Lizana Tutusaus, A. (Investigador/a Principal 2), Márquez Ruiz, A. (Investigador/a), Yzuel Gimenez, J. (Investigador/a) & Rodríguez Mangues, C. (Col.laborador/a)
Ministerio de Economía y Competitividad (MINECO)
1/01/19 → 30/06/22
Projecte: Projectes i Ajuts a la Recerca

Com citar-ho

@article{6c3dba871e7e4e09931f29096b0136ab,

title = "Displacement-free stereoscopic phase measuring deflectometry based on phase difference minimization",

author = "{Campos Coloma}, {Juan Ignacio Pedro}",

year = "2020",

month = oct,

day = "12",

doi = "10.1364/oe.403013",

language = "Ingl{\'e}s estadounidense",

journal = "Optics express",

issn = "1094-4087",

publisher = "The Optical Society",

}