Designing an inertial measuring system using system-on-chip and sensor microsystems integration

F.X. Fitó, E. Kanellou, Y. Guo, C. Ferrer

Producció científica: Capítol de llibre › Capítol › Recerca

Idioma original	Anglès
Títol de la publicació	Proceedings del IEEE International Sysposium on Industrial Electronics Conference (ISIE 2006)
Lloc de publicació	Piscataway (US)
Pàgines	3285-3263
Nombre de pàgines	22
Edició	1
Estat de la publicació	Publicada - 1 de gen. 2006

Com citar-ho

@inbook{4bc596687b184d1694fb7ffe1df4b10a,

title = "Designing an inertial measuring system using system-on-chip and sensor microsystems integration",

author = "F.X. Fit{\'o} and E. Kanellou and Y. Guo and C. Ferrer",

year = "2006",

month = jan,

day = "1",

language = "English",

isbn = "1-4244-0497-5",

pages = "3285--3263",

booktitle = "Proceedings del IEEE International Sysposium on Industrial Electronics Conference (ISIE 2006)",

edition = "1",

}

TY - CHAP

T1 - Designing an inertial measuring system using system-on-chip and sensor microsystems integration

AU - Fitó, F.X.

AU - Kanellou, E.

AU - Guo, Y.

AU - Ferrer, C.

PY - 2006/1/1

Y1 - 2006/1/1

M3 - Chapter

SN - 1-4244-0497-5

SP - 3285

EP - 3263

BT - Proceedings del IEEE International Sysposium on Industrial Electronics Conference (ISIE 2006)

CY - Piscataway (US)

ER -