Desarrollo de un Sistema de Test para Circuitos Integrados Analógico-Digitales

84-87412-61-0 ISBN: (Editor), A. Alvarez, J. Oliver, N. Fábregas, C. Ferrer, M. Rullán

Producció científica: Capítol de llibre › Capítol › Recerca

Idioma original	Espanyol
Títol de la publicació	Actas VI Jornadas de Diseño de Circuitos Integrados
Lloc de publicació	Santander (ES)
Pàgines	359-364
Nombre de pàgines	5
Edició	1
Estat de la publicació	Publicada - 1 de gen. 1991

Altres arxius i enllaços

@inbook{ac9f19cc87dd448a830032330fda72c4,

title = "Desarrollo de un Sistema de Test para Circuitos Integrados Anal{\'o}gico-Digitales",

author = "84-87412-61-0 ISBN: and A. Alvarez and J. Oliver and N. F{\'a}bregas and C. Ferrer and M. Rull{\'a}n",

year = "1991",

month = jan,

day = "1",

language = "Espa{\~n}ol",

isbn = "84-87412-61-0",

pages = "359--364",

booktitle = "Actas VI Jornadas de Dise{\~n}o de Circuitos Integrados",

edition = "1",

}

TY - CHAP

T1 - Desarrollo de un Sistema de Test para Circuitos Integrados Analógico-Digitales

AU - Alvarez, A.

AU - Oliver, J.

AU - Fábregas, N.

AU - Ferrer, C.

AU - Rullán, M.

A2 - ISBN:, 84-87412-61-0

PY - 1991/1/1

Y1 - 1991/1/1

UR - https://dialnet.unirioja.es/servlet/articulo?codigo=6262765

M3 - Capítulo

SN - 84-87412-61-0

SP - 359

EP - 364

BT - Actas VI Jornadas de Diseño de Circuitos Integrados

CY - Santander (ES)

ER -