Dependence of MOSFETs threshold voltage variability on channel dimensions

C. Couso, J. Diaz-Fortuny, J. Martin-Martinez, M. Porti, R. Rodriguez, M. Nafria, F. V. Fernandez, E. Roca, R. Castro-Lopez, E. Barajas, D. Mateo, X. Aragones

Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecercaAvaluat per experts

3 Citacions (Web of Science)
Idioma originalNo s'ha definit/desconegut
Títol de la publicació2017 Joint International Eurosoi Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (Eurosoi-Ulis 2017)
Estat de la publicacióPublicada - 2017

Com citar-ho