Idioma original | English |
---|---|
Revista | IEEE Electron Device Letters |
Volum | 41 |
Número | 10 |
Estat de la publicació | Publicada - d’oct. 2020 |
DC Characterization and Fast Small-Signal Parameter Extraction of Organic Thin Film Transistors With Different Geometries
M Nafria, Albert Crespo Yepes, Rosana Rodriguez Martinez, Arnau Arnal, Eloi Ramon, Lluís Antoni Terés Terés
Producció científica: Contribució a una revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
9
Cites
(Scopus)