Détection de fautes basée en graphs pour circuits intégrés NMOS

Producció científica: Capítol de llibreCapítolRecerca

Idioma originalFrancès
Títol de la publicacióISMM Intenational Symposium on Mini and Microcomputers and their applications (MIMI'87)
Lloc de publicacióAnaheim (US)
EditorACTA Press
Pàgines129-132
Nombre de pàgines3
Edició1
ISBN (imprès)0-88986-124-2
Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 1987

Com citar-ho