Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM).: Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé; D. Jiménez; N. Barniol; X. Aymerich; F. Pérez-Murano; G. Abadal

Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

X. Borrisé, D. Jiménez, N. Barniol, X. Aymerich, F. Pérez-Murano (Editor), G. Abadal (Editor)

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Idioma original	No s'ha definit/desconegut
Lloc de publicació	Barcelona (ES)
Nombre de pàgines	4
Estat de la publicació	Publicada - de juny 1998

Com citar-ho

Borrisé, X., Jiménez, D., Barniol, N., Aymerich, X., Pérez-Murano, F. (Ed.), & Abadal, G. (Ed.) (1998). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

Borrisé, X. ; Jiménez, D. ; Barniol, N. et al. / Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES), 1998. 4 pàg.

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author = "X. Borris{\'e} and D. Jim{\'e}nez and N. Barniol and X. Aymerich",

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Borrisé, X, Jiménez, D, Barniol, N, Aymerich, X, Pérez-Murano, F (ed.) & Abadal, G (ed.) 1998, Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES).

Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. / Borrisé, X.; Jiménez, D.; Barniol, N. et al.
Barcelona (ES), 1998. 4 pàg.

Producció científica: LLibre/informe › Llibre d'Actes › Recerca

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T1 - Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM).

T2 - Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines.

AU - Borrisé, X.

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A2 - Pérez-Murano, F.

A2 - Abadal, G.

PY - 1998/6

Y1 - 1998/6

M3 - Libro de Actas

BT - Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM).

CY - Barcelona (ES)

ER -

Borrisé X, Jiménez D, Barniol N, Aymerich X, Pérez-Murano F, (ed.), Abadal G, (ed.). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. "Caracterización de dispositivos ópticos integrados mediante Microscopía óptica de campo cercano (SNOM). Congreso Español de Microscopía de Efecto Túnel, de Fuerzas Atómicas y Técnicas Afines. Barcelona (ES), 1998. 4 pàg.