Confocal Micro-Raman Scattering and Rutherford Backscattering Characterization of Lattice Damage in Aluminium Implanted 6H-SiC

F.J. Campos, N. Mestres, F. Alsina, J. Pascual, E. Morvan, P. Godignon, J. Millán

Producció científica: Contribució a revistaArticleRecercaAvaluat per experts

Idioma originalAnglès
Pàgines (de-a)357-360
RevistaDiamond and Related Materials
Volum8
Número2-5
DOIs
Estat de la publicacióPublicada - 1 de març 1999

Com citar-ho