Fingerprint
Navegar pels temes de recerca de 'Channel-hot-carrier degradation and bias temperature instabilities in CMOS inverters'. Junts formen un fingerprint únic.- Ordenar per
- Ponderació
- Alfabèticament
Channel-hot-carrier degradation and bias temperature instabilities in CMOS inverters
Javier Martín-Martínez, Simone Gerardin, Esteve Amat, Rosana Rodríguez, Montserrat Nafría, Xavier Aymerich, Alessandro Paccagnella, Gabriella Ghidini
Producció científica: Contribució a revista › Article › Recerca › Avaluat per experts
22
Cites
(Scopus)