Breakdown modes and breakdown statistics of SiO2 gate oxides

J Suñé, D Jiménez, Miranda, E.

    Producció científica: Contribució a una revistaArticle de revisióRecerca

    Idioma originalEnglish
    Pàgines (de-a)789-848
    RevistaInternational Journal of High Speed Electronics and Systems
    Volum11
    Número3
    DOIs
    Estat de la publicacióPublicada - 1 de gen. 2001

    Com citar-ho